מדעenvironment
פענוח מורכבות ספקטרלית בשכבות מוליכים למחצה
חוקרים במכון הלאומי למדעי החומרים (NIMS) פיתחו שיטה אופטית חדשה לחשיפת אי-סדר חבוי בחומרים מוליכים למחצה דו-ממדיים. השיטה מנתחת ספקטרום פוטולומינסנציה מורכב כדי לזהות פגמים מבניים. פריצת דרך זו מספקת כלי אבחון עוצמתי עבור הנדסת חומרים מתקדמים. היא צפויה לשפר משמעותית את הדיוק בייצור רכיבים אופטו-אלקטרוניים מהדור הבא.