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Neue Hochfrequenz-Methode verbessert Auslesen von 2D-Materialien
Quantencomputer versprechen enorme Rechenleistungen, erfordern jedoch wiederholte Tests und ultraschnelle Zustandsmessungen. Ein neuer methodischer Ansatz für zweidimensionale Materialien steigert die Auslesegeschwindigkeit erheblich und löst ein wichtiges Problem in der Quantentechnologie.
