Des rayons X cartographient les structures chimiques 3D plus vite
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Points clés
- Une technique d'imagerie 43 fois plus rapide pour les structures 3D.
- Nécessite 97 % de données de mesure en moins.
- Développé par des chercheurs de l'Université Bar-Ilan.
Des chercheurs de l'Université Bar-Ilan ont mis au point une nouvelle technique d'imagerie par rayons X qui cartographie la composition chimique tridimensionnelle des objets de manière inédite. Cette approche surpasse les méthodes traditionnelles.
En utilisant des rayons X structurés, l'équipe a multiplié la vitesse par 43 tout en réduisant de 97 % les données de mesure nécessaires, ouvrant la voie à des analyses plus efficaces en science des matériaux.
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